紙張測厚儀的工作原理和技術(shù)指標(biāo)
紙張測厚儀THI-1801適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。接觸式測量原理，采用德國測厚傳感器；嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，保證測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。工業(yè)TFT屏，觸摸屏操作；零導(dǎo)航深度的扁平化界面 UI，操作更加方便快捷。手動、循環(huán)、預(yù)約定時多種測量模式，測試過程全自動完成；實驗簡單高效。
紙張測厚儀的工作原理：
機械接觸式測試方法，是通過位移傳感器測試薄膜材料的厚度。在測試前，儀器的測量頭落在設(shè)備砧板上，傳感器讀取測量頭的初始位移值，測量頭抬起后，將試樣放置在砧板紙上，測量頭以同樣的壓力落在試樣上，傳感器讀取測量頭的位移值，兩次位移值之差則為試樣的厚度值。
紙張測厚儀的技術(shù)指標(biāo)：
測試范圍：0～2mm（標(biāo)配） 0～10mm（可選）
分 辨 率：0.1μm
測量速度：1~25次/min（可調(diào)）
測 量 頭：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（標(biāo)配）
紙張：200mm2，50±1kPa（可選）
電 源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)
主機凈重：38kg
THI-1801 測厚儀
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
您的位置：網(wǎng)站首頁 > 技術(shù)文章 > 紙張測厚儀的工作原理和技術(shù)指標(biāo) 
地址：濟(jì)南市槐蔭區(qū)美里路1929號
郵箱：sales@systester.cn
傳真：
在線交流